Top Engineering 開發(fā)了一種檢測設(shè)備，可以提高M(jìn)icro LED顯示器的生產(chǎn)良率。該設(shè)備是在將Micro LED芯片轉(zhuǎn)移到面板之前，通過篩選有缺陷的芯片來防止產(chǎn)生壞像素的設(shè)備。有望降低Micro LED像素修復(fù)工藝的成本和時間，解決量產(chǎn)困難。
Top Engineering 在13日宣布，已開發(fā)出測試設(shè)備“TNCEL-W”，該設(shè)備應(yīng)用了新的Micro LED 芯片測量和檢查技術(shù)，超越了現(xiàn)有LED芯片檢測設(shè)備的局限性。
它可以在晶圓工藝階段批量檢測小于50微米 (?) 的Micro LED 芯片，該設(shè)備同時應(yīng)用電氣和光學(xué)測量方法，無需直接接觸Micro LED 芯片。Top Engineering董事Gyu-yong Bang表示：“我們正在與國內(nèi)外客戶進(jìn)行性能測試，最快今年年底就能提供測試設(shè)備。”
關(guān)注我們
公眾號：china_tp
微信名稱：亞威資訊
顯示行業(yè)頂級新媒體
掃一掃即可關(guān)注我們
產(chǎn)品供求| 雜志期刊| 協(xié)會服務(wù)| 專題集| 關(guān)于我們|網(wǎng)站地圖|版權(quán)聲明| 廣告服務(wù)
Copyright © 2018 深圳市美嘉投資有限公司. All Rights Reserved 版權(quán)所有 粵ICP備12048185號-1
中華顯示網(wǎng)所載文章、數(shù)據(jù)僅供參考，使用前務(wù)請仔細(xì)閱讀法律聲明，風(fēng)險自負(fù)。
媒體合作:0755-86149081 廣告咨詢:0755-86149131 Email:314106127@qq.com
