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國家新型顯示技術創(chuàng)新中心發(fā)布第八屆中國創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽新型顯示專題賽

編輯:chinafpd 2023-09-19 17:35:19 瀏覽:1084  來源:

國家新型顯示技術創(chuàng)新中心發(fā)布第八屆中國創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽新型顯示

第一批技術創(chuàng)新需求

 

第八屆中國創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽(廣東·國家新型顯示技術創(chuàng)新中心)新型顯示專題賽是由科技部指導、科技部火炬中心和廣東省科學技術廳共同主辦的以需求為核心促進科技成果轉(zhuǎn)化的國家級賽事。根據(jù)《科技部關于舉辦第八屆中國創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽的通知》(國科發(fā)火〔2023〕110號)有關部署要求,大賽聚焦我國新型顯示產(chǎn)業(yè)關鍵材料和核心裝備兩大卡脖子問題,以解決新型顯示產(chǎn)業(yè)技術需求為目標,面向社會公開征集解決方案,通過挑戰(zhàn)”“比拼的方式,擇優(yōu)確定解決方案。

經(jīng)向國家新型顯示技術創(chuàng)新中心各創(chuàng)新平臺征集,我中心遴選11項產(chǎn)業(yè)共性技術創(chuàng)新需求,面向全國公告,尋求挑戰(zhàn)方。

  • 技術需求清單

本批發(fā)布的技術需求清單共11項,主要涵蓋了半導體顯示領域大模型、量子點材料與器件開發(fā)、反射式顯示、TFT技術等領域,詳見下表:

 

 

序號

需求編號

需求名稱

研究內(nèi)容

聯(lián)合開發(fā)目標

發(fā)布單位

1

202301-1

半導體顯示領域知識體系與大模型開發(fā)

1)開發(fā)半導體顯示領域知識庫

2)開發(fā)半導體顯示領域的評測體系

3)大模型體系的訓練與微調(diào)

4)大模型的部署使用、迭代更新及維護

 

以一套專業(yè)系統(tǒng)的形式體現(xiàn), 擬設立基礎及專業(yè)定制版兩個版本, 面向領域內(nèi)使用, 并可開展對外服務

國家新型顯示技術創(chuàng)新中心本部

2

202301-2

高性能藍色量子點材料與器件開發(fā)

1)高性能藍色量子點關鍵材料開發(fā)

2)藍色QLED器件關鍵功能材料開發(fā)

3)藍色QLED器件開發(fā)及衰減機制研究

4)藍色QLED打印器件與工藝關鍵技術開發(fā)

  • 旋涂藍色QLED器件:CIE.y<0.06, 亮度1000 nitsCE≥12cd/A, LT95≥600h
  • 打印藍色QLED器件:CIE.y<0.06, 亮度1000 nitsCE≥10cd/A , LT95≥300h

國家新型顯示技術創(chuàng)新中心本部

 

3

202302-1

電潤濕電子紙用關鍵氟樹脂材料開發(fā)

1)無定形含氟聚合物合成技術

2)面向電潤濕顯示無定形含氟聚合物可控關鍵制備技術

3)含氟聚合物的放大生產(chǎn)關鍵技術

 

  • 介電常數(shù)≥ 2.0
  • 接觸角≥ 120 ± 5°C
  • 透光率≥ 99 %
  • 玻璃化溫度:130~150°C
  • 溶液粘度:100~1000 cps

反射式顯示創(chuàng)新平臺:華南師范大學

4

202303-1

超高遷移率氧化物TFT開發(fā)

  1. 高遷移率、高穩(wěn)定性稀土摻雜氧化物半導體材料、器件、驅(qū)動與集成關鍵技術

2)稀土摻雜氧化物TFT器件結構及界面優(yōu)化關鍵技術

3)低功耗、高密度像素陣列集成及封裝技術

  • µ≥100 cm2/V?s, Vth≤ 1.5 V, Ion/Ioff≥108, SS≤200 mV/dec;
  • PBTS Delta Vth ≤ 1.0V(測試條件Vgs=20 V, Vds=0.1 V, 溫度=60℃
  • NBITS Delta Vth ≤2.0 V(測試條件Vgs=-20 V, Vds=0.1 V,溫度=60 ℃,白光照射亮度≥6000 nits
  • 最高支持到360Hz動態(tài)刷新率氧化物驅(qū)動背板

 

TFT技術創(chuàng)新平臺:廣州新視界光電科技有限公司,華南理工大學

5

202304-1

掃描探針顯微及光譜檢測方法與裝置研發(fā)

1)高精度、高效率掃描探針成像關鍵技術

2)針尖近場光場分布及光場漩渦理論探究

3)顯示器件材料的振動光譜分析關鍵技術

4)顯示器件載流子輸運、復合過程及機理研究

5)顯示器件輻射發(fā)光、激子衰變過程及機理研究

  • 超分辨掃描探針顯微及光譜檢測設備1
  • 設備空間分辨率優(yōu)于10nm
  • 設備光譜分辨率優(yōu)于0.1nm

 

顯示裝備創(chuàng)新平臺:季華實驗室。

 

6

202304-2

新型柔性OLED器件空間型ALD封裝技術開發(fā)

  1. 高均勻性、高致密、高透光、低應力、

高速率無機薄膜沉積技術

2)高速動態(tài)流場控制技術

 

開發(fā)一套空間型ALD設備, 封裝薄膜可實現(xiàn)以下性能:

  • 水汽透過率≤ 10-4g/m2/day@100nm
  • 成膜速率≥ 20nm/min
  • 厚度非均勻性< ± 5%@100nm
  • 內(nèi)應力< ± 100Mpa@100nm
  • 可見光透過率 97%@100nm
  • 臺階覆蓋率 90%

顯示裝備創(chuàng)新平臺:季華實驗室。

 

7

202305-1

PPI FMM Mask開發(fā)

1)高精度FMM Mask基材(InVar合金或鐵鎳合金)開發(fā)技術

2)高精度FMM Mask圖案化方案(電鍍或激光刻蝕)

3)高精度FMM Mask制作工藝

 

 

像素密度達到1500PPIFMM Mask

 

蒸鍍OLED創(chuàng)新平臺:維信諾科技股份有限公司

 

8

202305-2

顯示用可拉伸導電材料開發(fā)

1)超高拉伸率導電材料開發(fā)

2)適用拉伸顯示低電阻關鍵技術開發(fā)

  • 拉伸率:20%~50%,電阻變化率≤ 15%
  • 拉伸回復率≥ 99%

蒸鍍OLED創(chuàng)新平臺:云谷(固安)科技有限公司

9

202306-1

超高密度GaN

 Micro-LED微顯示

1)高質(zhì)量GaN Micro-LED外延材料生長關鍵技術

2)高性能Micro-LED器件的設計與制備技術

3Micro-LEDCMOS背板鍵合集成技術

4)基于硅基CMOSMicro-LED顯示樣機集成技術

  • 單個GaN Micro-LED像素的臺面尺寸為5μm×5μmmax6μm×6μm),臺面中心間距不大于8μm
  • 0.7吋顯示樣機像素分辨率為1920×1080(像素密度超過3000PPI)、可視角度:80°/80°/80°/80°、亮度不小于300,000 cd/m2
  • Micro-LED樣機可工作溫度:-20℃+60℃

Micro-LED顯示創(chuàng)新平臺:福州大學、閩都創(chuàng)新實驗室

 

10

202301-3

基于噴墨打印工藝的Mini-LED顯示封裝技術開發(fā)

1Mini-LED顯示用打印封裝黑色掩膜材料開發(fā)

2Mini-LED顯示基板、芯片及掩膜材料適配技術開發(fā)

3)適用于Mini-LED顯示用噴墨打印關鍵工藝技術開發(fā)

  • 掩膜厚度:5-50μm
  • 厚度均一性:≤7%@5-20μm,≤10%@20-50μm
  • 邊緣線性精度:≤ ± 15μm
  • Mura要求:無線性Mura
  • Mini-LED芯片上表面無墨水材料殘留

國家新型顯示技術創(chuàng)新中心本部。

 

11

202307-1

激光顯示用高功率藍光半導體激光器

1)大失配異質(zhì)結激光材料設計、生長和調(diào)控關鍵技術

2)載流子的泄漏抑制、光增益增強與光損耗抑制技術

3)器件可靠性提升及應用技術

  • 藍光 LD 激光器功率≥ 6W
  • 激光器波長 460nm ± 5nm
  • 激光器壽命≥ 10000h

 

激光顯示創(chuàng)新平臺:中國科學院理化技術研究所,杭州中科極光科技有限公司

 

 

二、挑戰(zhàn)須知

(一)挑戰(zhàn)資格:

遵守國家法律法規(guī)及大賽規(guī)則且具有相應研發(fā)能力的高等院校、研究機構、企業(yè)和技術團隊等均可報名參加挑戰(zhàn)。

(二)挑戰(zhàn)報名:

1、報名前,請來電與大賽承辦方開展技術對接交流;

2、報名材料(詳見附件2《挑戰(zhàn)報名表》、附件3中國創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽聲明通過大賽指定郵箱(yangdy@nctid.com)提交,截止時間為2023年10月,逾期不再受理。同時提交WORD版及加蓋公章的PDF掃描件,解決方案一經(jīng)投遞,不予退還。掃描件與紙質(zhì)版須內(nèi)容一致,缺一視為材料不完整,取消現(xiàn)場賽推薦資料; 

3、經(jīng)與大賽承辦方對接后,請參照附件4步驟在中國創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽官網(wǎng)( http://challenge.chinatorch.gov.cn)完成注冊。

(三)材料郵寄地址及聯(lián)系人

地址:廣東省廣州市黃埔區(qū)光譜中路11號云升科學園A棟

聯(lián)系方式:楊東艷 15521059006

          莊佳慶 18819155538

三、評審機制

專家賽前初選+現(xiàn)場賽專家評審。嚴格按照客觀、公平、公正、科學、擇優(yōu)的原則,根據(jù)科技部挑戰(zhàn)賽相關文件要求,通過技術、承擔能力與工作基礎評價等,對挑戰(zhàn)者進行綜合排名,評選結果當場公布。

四、大賽獎勵

針對經(jīng)挑戰(zhàn)賽達成合作,且取得預期成果的技術解決方,給予項目合作資金支持。同時設置以下獎勵:

  1. 參賽雙方分別頒發(fā)榮譽證書;
  2. 總決賽設置一等獎3名、二等獎3名、三等獎3名,頒發(fā)獎牌、榮譽證書;
  3. 總決賽獲獎項目優(yōu)先推薦列入國創(chuàng)中心項目庫,擇優(yōu)予以支持;
  4. 獲獎項目優(yōu)先享受科技金融、股權投資、人才政策等方面支持。
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