国产精品视频播放更新_亚洲精品中文综合_凌晨三点3免费观看_无码A级免费毛片视频_综合久久网

　　Mura 測試方案

　　1. 液晶缺陷

　　1) Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不緊密導(dǎo)致燈管光直接透射出來。 2) Zure—錯誤對位，指液晶屏的濾光單元與TFT對位出現(xiàn)錯誤導(dǎo)致的缺陷 3) SIMI—基板上有污漬 4) Mura—是指顯示器亮度不均勻造成各種痕跡的現(xiàn)象，最簡單的判斷方法就是在暗室中切換 到黑色畫面以及其它低灰階畫面，然后從各種不同的角度用力去看，隨著各式各樣的制 程瑕疵，液晶顯示器就有各式各樣的mura。 以上各種缺陷，Mura是最難以檢測的，因為它是光學(xué)，色度學(xué)以及人類心理學(xué)的一個結(jié)合體。

　　2. Mura定義

　　mura本來是一個日本字, 隨著日本的液晶顯示器在世界各地發(fā)揚光大, 這個字在顯示器界就變成一個全世界都可以通的文字。mura是指顯示器亮度不均勻, 造成各種痕跡的現(xiàn)象。 最簡單的判斷方法就是, 在暗室中切換到黑色畫面, 以及其他低灰階畫面. 然后從各種不同的角度用力去看, 隨著各式各樣的制程瑕疵, 液晶顯示器就有各式各樣的mura. 可能是橫向條紋或四十五度角條紋, 可能是切得很直的方塊, 可能是某個角落出現(xiàn)一塊, 可能是花花的完全沒有規(guī)則可言, 東一塊西一塊的痕跡. 《液晶顯示器件 第2-2-4部分：手機用彩色矩陣液晶顯示模塊詳細規(guī)范》指出，云紋（Mura）應(yīng)該在6%中性密度濾光鏡遮蓋后不可見，或?qū)φ諛?biāo)準(zhǔn)樣本。 然而，液晶面板的質(zhì)量判定大部分是采用專業(yè)訓(xùn)練人員以人眼檢測，隱含人類視覺限制、訓(xùn)練程度及主觀認(rèn)定等因素，容易產(chǎn)生不可靠的判定結(jié)果，成為生產(chǎn)者與消費者之間的爭議，故廠商積極發(fā)展機器視覺的檢測架構(gòu)。

　　3. Mura測試與量化 SEMI針對Mura測試建立了一個標(biāo)準(zhǔn)。

　　定義：JND — Just Noticeable Difference • 公式： • Cjnd是mura 缺陷最小可覺察的對比度差異 • Sjnd為C jnd下的mura 缺陷面積。 可見，每一個Sjnd都有一個固定的Cjnd對應(yīng)。Sjnd與C jnd是遞減關(guān)系，面積越大，人眼對對比度低的mura更敏感。 上圖三個點可以說明Sjnd與C jnd的關(guān)系，箭頭所指的點兩兩灰度一樣，但面積不一樣，從而引起視覺敏感性不同。 公司產(chǎn)品WP640/690由于具有高度靈敏性，能分辨出Mura的細微的灰度差值。 下圖是一些mura通過計算后顯示出來的圖片： 得益于高精度的色度亮度測試，Westboro Photonics公司的WP640/690能精確測試出mura的位置并對其進行量化，從而實現(xiàn)Mura的自動化測試與分析。 WP640/690系列具有400萬/900萬像素伯爾貼冷卻式高靈敏度CCD，動態(tài)范圍超過100,000:1,是測試mura的先決條件。 WP640與WP690成像亮度儀自帶Photometrica軟件，為用戶提供了最具生產(chǎn)力的軟件環(huán)境，無論是簡單或者深入的分析。使用選配的腳本或者軟件開發(fā)工具包（SDK），軟件所有的結(jié)果與分析功能都可實現(xiàn)高效的自動化。